晶體振蕩器被廣泛用于各種模擬和數(shù)字電路中作為基準時鐘源，其質量的好壞直接影響到電路工作狀況，而晶振外殼(也稱晶振帽)沖壓品質是影響晶振性能的主要因素之一。。晶振外殼采用沖床連續(xù)沖壓成型，經大量觀察和分析發(fā)現(xiàn)，主要缺陷有內底面與頂面的凹坑、內底面與頂面的劃痕，側面裂口和側面撓曲。之前的研究者針對前3種缺陷，應用計算機視覺檢測技術開發(fā)了晶振外殼缺陷檢測系統(tǒng)。側面撓曲嚴重同樣可以影響晶振的質量，是指外殼主要側面不平行，如圖所示。理論上這種側面的撓曲缺陷使得本來與光源平行的內側面發(fā)生小角度傾斜，其在圖像上的突出表現(xiàn)是晶振外殼凸緣內側邊緣變粗和不平行。

圖晶振外殼內側面不平行

晶振外殼的表面質量對晶振的性能有較大的影響。針對工業(yè)現(xiàn)場中晶振外殼撓曲缺陷的特點，我們可以檢測晶振外殼內側邊緣間的距離，如果某連續(xù)的一段檢測值超出合格范圍，就判定該零件不符合要求，即存在撓曲缺陷。泰河電子產品一律符合晶振外殼凸緣內側邊緣平行，使之產品性能占有很大的競爭優(yōu)勢。

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